Röntgendiagnostik

Ultraschallmikroskopie

Rastersondenmikroskopie

Transmissionelektronenmikroskopie

Nano-Optische Verfahren

Oberflächencharakterisierung

Geometrische Lasermesstechnik

Applikationen

nanofocus µscan @ IAVT

nanofocus µsurf @ IAVT

Mahr PMC 500 @ IAVT

Rasterelektronenmikrokopie mit FIB oder EDX/EBSD

Mechanische Prüfung

Sensortechnik / Prüfsysteme

Applikationen

Flip Chip Bump

Leiterplatten Details

Leiterplattenrauheit

Lotpastendruck

Mikrohärtemessung

Silizium Druckmembran

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