Gerätetechnik

Mit einem hochmodernen Transmissionselektronenmikroskop Zeiss LIBRA® 200 HR MC Cs STEM ausgestattet mit Monochromator und Cs-Strahlkorrektor eröffnet sich eine Vielzahl von Möglichkeiten der Werkstoffcharakterisierung:

• Konventionelle TEM-Abbildung mit atomarer Auflösung
• Abbildung mit fokussiertem Elektronenstrahl im Rastermodus (STEM) mit einer Auflösung < 120 pm
• Energiegefilterte Abbildung (EFTEM) mit in-column Omega-Filter
• Ortsaufgelöste chemische Analytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDXS) und/oder Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS)
• Elektronenbeugung zur Struktur- und Phasenanalyse von Nanomaterialien
• Nanobeugung zur Dehnungsanalyse in einkristallinen Materialien
• Orientierungsabbildungsmikroskopie zur Kornorientierungsbestimmung nanokristalliner Materialien
• Elektronentomographie im TEM- und STEM-Modus