Akustisches Mikroskop @ IZFP-D
- auswechselbare Schallköpfe von 10 MHz - 175 MHz mit Fokusweiten von 2mm bis 50 mm
- Spezialschallköpfe für hochauflösende Messungen
- Spezialschallköpfe für Untersuchungen mittels Modenkonversion (Longitudinal- , Transversal- und Rayleighwellen)
- Klassische Echo-Untersuchungsverfahren A-Scan, B- Scan, C-Scan, X-Scan
- Klassische Durchschallungsmessung (Through-Scan)
- DrySAM - Akustische Mikroskopie für empfindlichen Proben ohne Immersion
- Akustische Rekonstruktion - 3D-Visualisierter Datensatz der akustischen Antworten aus dem gesamten Volumen des Prüflings → Video
- Wafersupport für hochaufgelöste Serienmessung an 300-mm Wafern
- verbesserte Signalverarbeitung für rauschärmere Bilder
Ansprechpartner, technische Beratung:
Dr. Bernd Köhler:
Tel: +49 (351) 888 15 520
Email: Bernd.Koehler(@)izfp-d.fraunhofer.de
oder
Dipl.-Ing. Thomas Windisch:
Tel: +49 (351) 888 15 518
Email: Thomas.Windisch@izfp-d.fraunhofer.de
