Prüftechnik für Alterungsmechanismen in nanoskaligen Verbindungen (nanoPAL)

Inhalt: Das Verbundprojekt untersucht Alterungsmechanismen von hochminiaturisierten Lötverbindungen. Auf dieser Basis erfolgt die Entwicklung von neuen Prüfverfahren für Qualität und Zuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen mit weitergehender Miniaturisierung. Rasterkraftmikroskopie und Ultraschallmikroskopie werden zu einem zerstörungsfreien Prüfverfahren verbunden. Ein Präzisionsschertester mit hoch auflösender Bildverarbeitung ermöglicht die Prüfung von Lötverbindungen an kleinsten Bauteilen.

Ergebnisse: Die Ergebnisse des Verbundprojektes sind in einem Fachbuch unter dem Titel "Fehlermechanismen und Prüfverfahren miniaturisierter Lötverbindungen" veröffentlicht worden. Das Buch ist erschienen im Verlag Markus A. Detert, Templin, und kann über diese Website beim Zentrum für mikrotechnische Produktion bestellt werden.

Die Ergebnisse des Projektes sind außerdem auf dem 23. Workshop Mikrotechnische Produktion präsentiert worden. Die Workshop-CD ist erhältlich.

Laufzeit: 1.01.2007 bis 31.12.2009